Thermal Compact Modeling and Resistive Switching Analysis in Titanium Oxide-Based Memristors
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Mostrar el registro completo del ítemAutor
Roldán Aranda, Juan Bautista; Cantudo Gómez, Antonio; Maldonado Correa, David; Aguilera Pedregosa, Cristina; Jiménez Molinos, FranciscoEditorial
American Chemical Society
Fecha
2024-02-15Referencia bibliográfica
ACS Applied Electronics Materials, https://doi.org/10.1021/acsaelm.3c01727