TY  - THES 
A3  - Rodríguez Santiago, Noel
A3  - Castillo Morales, María Encarnación
AU  - Hatefinasab, Seyedehsomayeh
A4  - Universidad de Granada. Programa de Doctorado en Tecnologías de la Información y Comunicación
PY  - 2024
SN  - 9788411951708
UR  - https://hdl.handle.net/10481/89398
AB  - En un entorno hostil con una enorme radiación como la del espacio, la parte de memoria
de los circuitos electrónicos, como los biestables D puede perder sus valores
almacenados y volverse más vulnerable a eventos de alteración de múltiples...
AB  - In a harsh environment with huge radiation as space, the memory part of electronic
circuits, such as D-latches, can lose their stored values and become more vulnerable to
multiple node upsets (MNUs) events. To tackle this issue, the on-board chips...
LA  - eng
PB  - Universidad de Granada
KW  - Hardened D-latch
KW  - Power-delay product (PDP)
KW  - Complementary Metal Oxide Semiconductor (CMOS) technology
TI  - Low-cost soft-error hardened D-Latch in nano CMOS technology
M3  - doctoral thesis
ER  -