TY  - CHAP 
AU  - Nieto García, Fernando
AU  - Jiménez-Millán, Juan
AU  - Gambogi Parreira, Gleydes
AU  - Chiarini-Garcia, H.
AU  - Netto Melo, R.C.
PY  - 2010
UR  - http://hdl.handle.net/10481/64241
AB  - The basics of image formation and instrumentation on Scanning and Transmission Electron Microscopy are presented. The various types of signals in both modes are explained, together with the kind of information, which can be obtained from them
AB  - Se presentan los conceptos básicos sobre la formación de imágenes e instrumentación en microscopía electrónica de barrido y transmisión. Se explican los distintos tipos de señales en ambos modos, junto con el tipo de información que se puede obtener...
LA  - eng
PB  - CRC Press, New York
KW  - SEM
KW  - TEM
KW  - Instrumentación
KW  - Secondary electrons
KW  - Backscattered electrons
KW  - Lattice fringes
TI  - Electron Microscopy: SEM/TEM
ER  -