X-RAY DIFFRACTION PARAMETERS IN VERY LOW-GRADE METAMORPHISM SEEN IN THE “LIGHT” OF TEM

Abstract

Methods based on X-ray diffraction commonly used to decipher diagenetic/low- grade metamorphic conditions are revised and evaluated according to our current knowledge of related geological processes obtained via transmission electron microscopy. A lack of evident qualitative changes in phyllosilicates, including their mineral chemistry, from deep diagenetic to low-epizone conditions explains the scarcity of valid grade criteria. Throughout this range of diagenetic-metamorphic conditions a progressive increase in the crystalline domain size together with a decrease in the number of defects are the only significant changes to be observed. Therefore indices related to crystallinity still remain the most successful methods based on the crystal- chemical characteristics of phyllosilicates.

Se revisan y evalúan los métodos basados en difracción de rayos X comúnmente usados para conocer las condiciones diagenéticas/metamórficas de bajo grado, de acuerdo con el conocimiento actual de los procesos geológicos relacionados obtenido por microscopía electrónica de transmisión. La falta de cambios cualitativos evidentes en los filosilicatos, incluida su química mineral, desde condiciones diagenéticas profundas hasta condiciones de epizona débil, explica la escasez de criterios de grado válidos. En toda esta gama de condiciones diagenético-metamórficas, un aumento progresivo en el tamaño del dominio cristalino junto con una disminución en el número de defectos son los únicos cambios significativos que se pueden observar. Por lo tanto, los índices relacionados con la cristalinidad siguen siendo los métodos basados en características cristaloquímicas de los filosilicatos más adecuados .