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dc.contributor.authorNieto García, Fernando 
dc.date.accessioned2020-11-10T13:10:34Z
dc.date.available2020-11-10T13:10:34Z
dc.date.issued2008
dc.identifier.citationInstrumental techniques applied to Mineralogy and Geochemistry (I. Subias, and B. Bauluz, eds.): 21-42es_ES
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10481/64178
dc.language.isoenges_ES
dc.publisherSociedad Española de Mineralogíaes_ES
dc.relation.ispartofseriesSeminarios de la Sociedad Española de Mineralogía;
dc.rightsAtribución-NoComercial-SinDerivadas 3.0 España*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/*
dc.subjectTransmission electron microscopy es_ES
dc.subjectElectron diffractiones_ES
dc.subjectIon millinges_ES
dc.subjectGeology es_ES
dc.subjectMineralogy es_ES
dc.subjectLattice imageses_ES
dc.subjectElectron crystallographyes_ES
dc.subjectAnalytical electron microscopyes_ES
dc.subjectAEMes_ES
dc.titleTEM in Geology. Basics and applicationses_ES
dc.typebook partes_ES
dc.rights.accessRightsopen accesses_ES
dc.type.hasVersionVoRes_ES


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