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Cristalografía: Defectos lineales, bi- y tri-dimensionales
Presentation14.pps (342.6Mb)
Identificadores
URI:
http://hdl.handle.net/10481/61674
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Autor
Nieto García, Fernando
Materia
Docencia
Cristalografía
Dislocaciones
Politipismo
Defectos de multiplicidad de la cadena
Defectos de apilamiento
Dominios de antifase
Fecha
2020
Colecciones
DMP - Cursos
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