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dc.contributor.advisorJiménez Molinos, Francisco es_ES
dc.contributor.advisorRoldán Aranda, Juan Bautista es_ES
dc.contributor.authorVillena Sánchez, Marco Antonioes_ES
dc.contributor.otherUniversidad de Granada.es_ES
dc.contributor.otherDepartamento de Electrónica y Tecnología de Computadoreses_ES
dc.date.accessioned2018-05-03T11:11:20Z
dc.date.available2018-05-03T11:11:20Z
dc.date.issued2018
dc.date.submitted2015-07-17
dc.identifier.citationVillena Sánchez, M. A. Estudio, modelado y simulación de memorias RRAM. Granada: Universidad de Granada, 2018. [http://hdl.handle.net/10481/50522]es_ES
dc.identifier.isbn9788491638223
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10481/50522
dc.description.abstractEl interés que han despertado estas memorias se refleja también en el elevado número de publicaciones1 que han aparecido en los últimos años. Además, en las últimas ediciones del congreso de referencia mundial en el campo de los dispositivos electrónicos IEDM (International Electron Device Meeting), los dispositivos con más contribuciones asociadas fueron las RRAM. Por último, numerosas empresas privadas como Crossbar, Sony, Panasonic, HP, Towerjazz… han puesto también su mirada, y su dinero, en esta nueva tecnología. Las memorias RRAM (también conocidas como ReRAM) basan su funcionamiento en la conmutación entre estados de diferente resistencia (Resistive Switching, RS) (ver Capítulos 2 y 8). Hay varios tipos de memorias RRAM, según el mecanismo físicoquímico involucrado en la conmutación entre los estados de alta y baja conductividad (ver sección 1.3). En la mayoría de los casos los dispositivos son extremadamente simples de fabricar (consisten en dos contactos metálicos o semiconductores con un óxido en medio) y con una alta compatibilidad con la tecnología CMOS. Con dos niveles de tensión diferentes se pueden forzar las transiciones entre los estados de alta y baja resistividad. La sencillez de funcionamiento y fabricación les da unas perspectivas extremadamente atractivas para abordar con éxito las necesidades de escalado a las que se enfrentarán en el contexto tan competitivo de la industria electrónica actual. Además, su alta velocidad de conmutación también las postula como buenas candidatas para nuevos nichos tecnológicos. Sin embargo, los principios físicos y químicos involucrados en las transiciones todavía no han sido del todo clarificados. Con el fin de contribuir al desarrollo de esta prometedora tecnología, en el contexto de esta tesis doctoral se ha desarrollado un simulador macroscópico para este tipo de dispositivos al que hemos llamado SIM2RRAM (ver Capítulo 3). A partir de los resultados obtenidos, y su comparación con resultados experimentales, se ha realizado un modelado y análisis del funcionamiento interno desde el punto de vista estructural, térmico y eléctrico.es_ES
dc.description.sponsorshipTesis Univ. Granada.es_ES
dc.description.sponsorshipPrograma Oficial de Doctorado en Física y Ciencias del Espacioes_ES
dc.format.mimetypeapplication/pdfen_US
dc.language.isospaes_ES
dc.publisherUniversidad de Granadaes_ES
dc.rightsAtribución-NoComercial-SinDerivadas 3.0 España*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/*
dc.subjectAstronomía es_ES
dc.subjectAstrofísica es_ES
dc.subjectEstudioes_ES
dc.subjectRRAMes_ES
dc.subjectFísica es_ES
dc.subjectCMOSes_ES
dc.titleEstudio, modelado y simulación de memorias RRAMes_ES
dc.typedoctoral thesises_ES
dc.subject.udc52es_ES
dc.subject.udc53es_ES
dc.subject.udc2100es_ES
dc.subject.udc2200es_ES
europeana.typeTEXTen_US
europeana.dataProviderUniversidad de Granada. España.es_ES
europeana.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/en_US
dc.rights.accessRightsopen accessen_US


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